Коллеги. Меня интересует вопрос о соответствии существующих инструкций на нивелирование, как "ГУГКовских" и ведомственных, так и в профиле их соответствия современному техническому инструментарию. Фактически требования к работе на станции, да и требования к обработке даны для оптических высокоточных нивелиров. Сейчас мы работаем в основном электроникой. Может быть кто нибудь встречал такую информацию в виде статей или каких то других изданий?
Чем именно? DiNi - DNA и им подобные? Они от "обычного" нивелира мало отличаются. И вот тут есть об чем поговорить, поскольку они по точности и по большинству параметров и по действующим инструкциям пригодны, но по увеличению трубы... Однако, чуть меньше нужного увеличение с лихвой компенсируется взятием отсчета без участия оператора ;) Или вы электронным тахеометром хотите классное нивелирование делать?...
G Порадок работы на станции обеспечивает контроль за положением нивелира и гарантирует точность выполнения работ.
На мой взгляд просто электроникой прибрана погрешность взгляда, а это как минимум 30, а то и все 50% от СКП превышения на станции. Однако, здесь вылезает другая проблема - если убрана случайная часть, то ведь неминуемо вылезает систематика. В этом случае подход к оценкам СКП превышения на станции нужен наверное другой. - С позиции компенсации систематических ошибок методикой работы на станции.
ровно та же, что из "обычного" нивелира... соответственно, при соблюдении тех же правил, имеем то же самое... а прошитая в цифровой нивелир программа контролирует и разность плеч, к примеру...
SergKo Мне кажется, что погрешность на станции без ошибки взгляда может быть уменьшена как минимум в два раза. Зато, сейчас впрямую встали вопросы 1) О просаживании башмаков и костылей. Делал анализ по Балаковскому и Воронежскому ГДП (нивелирование 1-2 класса) по превышениям на станции, то взятыми последними превышения всегда отличаются на 0,05-0,10 мм. 2) О влиянии неравного освещения и вибрации. 3) Ну и конечно о влиянии высоковольтных ЛЭП. Экспериментировали с оптикой и электроникой - расхождения до 0,1-0,3 мм в зависимости от влажности Так, что существующие нормативы по-моему нужно пересматривать.
А разве при работе оптикой эти вопросы не стояли? Разве башмаки не просаживались? Неравномерное освещение, вибрации, состояние атмосферы точно так же влияло на точность ручного снятия отсчёта. Ну ЛЭПы, возможно не влияли, хотя за полное отсутствие влияния можно говорить только для нивелиров с пузырьком, уже для оптики с компенсатором фиг его знает. Собственно, в Инструкции по нивелирове описаны все приёмы по минимизации различных ошибок (порядок работы на станции и т. д.). Все они справедливы как для оптики так и для электроники. Что сильно нового можно добавить для электроники? Или вы думаете, что при работе оптикой всё терялось за ошибкой отсчитвания и названным вами источникам ошибок не уделяли внимания. Если так и было, то только для IV класса и технички, но никак не для I и II классов.
Мне кажется допустимые величины рассчитывались исходя из совокупности этих ошибок. Теперь когда существенно уменьшена случайная компонента, естественно на первое место вышли совсем другие погрешности и в данном случае названные систематические. Да они всегда существовали, однако оценить (компенсировать) их не было нужды. Теперь когда убрана основная погрешность взгляда, то для увеличения точности нужно оценивать оставшуюся систематику. Поэтому сейчас и нужно пересматривать допустимые расхождения на станции. Естественно они должны быть гораздо более скромными.
Всё таки на I II классе при использовании микрометра погрешность взгляда была не столь велика, а может быть даже сопоставима (при наличии у наблюдателя некоторого опыта) с электронным нивелиром. Поэтому, я полагаю, что для I II классов ничего пересматривать не нужно. Конечно, если Вы гоняете III класс электроникой, то допуска должны быть существенно более жёсткие, чем при работе оптикой. Впрочем, если Вы считаете, что, скажем 0,7 мм для расхождения на станции (II кл) Вам много, то никто не запрещет Вам самим в своих измерениях эти допуски ужесточить, т.е., скажем, браковать станцию уже пр расхождении больше 0,4 мм (если, конечно, число переделываемых станции не зашкалит за разумные рамки).
На мой взгляд, здесь необходимо отталкиваться от необходимой СКП на станции. Так, если Вы проектируете методику нивелирования для определения осадок и деформаций зданий и сооружений, то неизбежно столкнетесь с выбором класса или разряда нивелирования. Чем меньше ошибка на станции, то тем грубее нивелирования Вы будете проектировать. К примеру, при допустимой погрешности определения высоты удаленной точки в 1 мм. при нивелировании 1-го разряда по Карлсону СКП на станции 0,08 мм, при нивелировании 2 разряда - 0,13 мм. При нивелировании 1 разряда Вы сможете охватить сеть порядка 39 штативов, при нивелировании 2 разряда - 24 штатива.
